业界首创AI算法驱动的高精度半导体参数一体化测试系统

作者:博达微发布时间:2018-01-18浏览数:1043

在科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长、摩尔定律已逐渐不再适用的今天,整个测试测量行业也在发生着巨大的变化,我们需要一个更加面向未来的智能测试方案,来打破传统仪器固有的局限。


软件定义测试,算法突破硬件限制”,基于NI的PXI模块化硬件平台,应用人工智能算法,拓展硬件固有的测试能力,大幅提高测试精度和速度,博达微科技可以说是现今利用人工智能驱动半导体测试测量的领导者。博达微算法团队全部来自清华大学电子系,优化算法出身,十年前就利用算法处理集成电路工艺浮动仿真难题,积累了“行为预测”、“噪声去除”等一系列技术算法原型,从2015年开始团队把算法应用转移至半导体测试领域。


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今年年初博达微科技发布了基于机器学习的第一代半导体参数化测试产品FS系列,在精度和灵敏度上对NI硬件模块做了两个数量级的提升,一经推出就迅速获得市场认可,南京大学青年千人计划科学家王肖沐博士这样评价:“博达微科技的FS系列半导体参数测量系统与之前使用的传统测试仪器相比,测试速度要快很多,产品很好地满足了测试对速度、集成化、易用性和灵活性的要求。”


基于一年多的市场探索,和技术上的持续投资,今天新一代的FS系列 FS-Pro正式面世,相对于前一代FS系列仅针对IV测试,FS-Pro集成了IV测试、CV测试、低频噪声(1/f noise)测试等常用低频特性测量于一体,在单台仪器内完成所有测试需求,真正做到All-In-One!测试速度提升10倍,在低频噪声测试中将原本需要几十秒的测试时间缩短至5秒以内。在产品发布前,FS-Pro已通过了中国电子技术标准化研究院的国家级认证。

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 “结合十几年的半导体行业经验,让AI算法指导硬件,使测量突破原有物理边界成为可能。” 博达微科技CEO李严峰说到,“这是业界首次把IV,CV和噪声测试集成到单台设备中,无需换线客户即可完成几乎全部低频参数化表征。博达微同时提供了一块业界首创的AI测试加速卡,按下加速键,客户就会体会到前所未有的测试速度。基于NI提供的模块化架构,用户可以灵活扩展,从四通道到近百个通道。” 2018新年伊始,在产品正式发布前博达微就收到了FS-Pro的第一张订单,产品样机也在领先的半导体公司和科研机构进行不间断试用和测试。“我们已经看到FS-Pro未来在半导体参数化测试,产线测试如WAT测试中发挥的巨大空间,我们会在’软件定义测试,算法突破硬件边界’的方向上继续投入,持续落地智能算法到产品,让用户体会到巨大的性能提升。”


NI 亚太区销售与市场部副总 Chandran Nair 表示:我们对于博达微科技利用 NI 最新 SMU 开发出的智能参数测试方案 FS-Pro 印象深刻。 透过博达微科技与 NI 硬件所达到优异的精确性与测试速度相信非常适合应用于参数研究与量产测试上。NI未来在技术与市场方面将会一如既往的大力支持博达微,持续为半导体领域的客户提供更快速、更稳定、更智能的参数化测试方案。


关于FS Pro™系列:

1.     人工智能算法驱动的高精度IV, CV与1/f噪声一体化测试系统

2.     IV测试速度相比较传统测试方案提升达10倍

3.     模块化架构可轻松扩展支持生产测试

4.     内置测量控制软件LabExpress™ 强大测试分析功能

5.     宽量程范围应用, 高达200V,3A(脉冲,标准1A),0.1fA灵敏度

6.     业界唯一提供可选内置器件建模与仿真软件