博达微出席DATE 2018并获最佳论文奖

作者:博达微发布时间:2018-03-29浏览数:636

DATE(Design Automation And Test in Europe) 是集成电路设计自动化与测试领域的顶级国际会议之一,今年该会议于3月19日至23日在德国Dresden举行。

www.dresden-congresscenter.de


date.webp.jpg


博达微科技与清华大学合作论文《Low-Cost High-Accuracy Variation Characterization for Nanoscale IC Technologies via Novel Learningbased Techniques》 获得本届DATE会议的Best Paper(最佳论文奖), 第一作者潘志建和第一通讯作者李严峰出席了3月21日晚在 Deutsches Hygiene-Museum举行的颁奖典礼DATE Party。


date4.webp.jpg

date1.webp.jpg

date2.webp.jpg


论文创新地利用学习算法来加速半导体量产波动测试,核心算法和方法经过超过15万条真实的商业28nm的晶圆测试曲线验证,在平均误差小于0.1%,最大误差不超过0.8%的高精度前提下,实现测试效率提升10-14倍。作为学习算法在半导体参数化测试应用的领导者,博达微一直致力于用算法和专家经验提升半导体参数化测试精度、速度和测试能力的提升,相关算法也落地到实际的测试产品。本次展会同时展出了刚刚发布的算法驱动的半导体参数测试解决方案FS-Pro™和业界最快的低频噪声测试方案NC300™。