博达微科技将参展第54届DAC

作者:博达微发布时间:2017-05-12浏览数:506

博达微科技将于2017年6月18日至21日参展在美国德克萨斯州奥斯汀会议中心举办的第54届全球电子设计自动化大会,公司展位NO.1929,我们将会展示由AI驱动的从量测到仿真的完整设计支持生态链系统:

    ·       专为设计师设计的易于测量small dies的小型便携式探针台P200

    ·       新一代半导体参数分析系统FS系列,配有DC,AC及低频噪声测试功能模块

    ·       业界最快的1/f噪声测量系统NC300系列,测试速度现已升级到2/bias

    ·       完整器件建模平台MeQLab,由AI算法驱动的自动提取流程

    ·       PDK自动验证工具PQLab,拥有最全面的PDK QAsignoff功能

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除此之外,最先进的半导体教育套件及新一代200V电压1A bias电流范围的低频噪声模块也将首次亮相DAC!

关于DAC:全球设计自动化大会(DAC)是公认的EDA领域的首要会议,每年有来自世界各地超过1000多个组织成员参会。有系统设计师、电路设计师、验证工程师、CAD经理、高级管理者,以及重点大学的研究人员和学者等代表出席。电子设计专家委员会精选了近300场技术讲座和会议,提供有关最新技术发展趋势,项目实践和新产品应用等信息。DAC展会的一大亮点是约有200家来自如下领域的领先及新兴公司参展:

     ·       电子设计自动化(EDA

     ·       知识产权(IP

     ·       嵌入式系统及软件

     ·       物联网(IoT

     ·       设计服务